Dispositif expérimental

Le dispositif Nanoplast se compose de deux enceintes à ultra haut vide (UHV) (Fig. 1). La première enceinte (A) est dédiée à la préparation des échantillons et au contrôle par spectroscopie d’électrons Auger (AES) et diffraction d’électrons lents (LEED), la seconde (B) contient le dispositif de sollicitation mécanique et le microscope en champ proche AFM contact-NC/STM.

Les principales caractéristiques de l’équipement Nanoplast sont les suivantes:

  • Vide de base: < 8. 10-11 mbar pour la chambre de préparation et < 5. 10-11 mbar pour la chambre d’analyse et du microscope,
  • Décapage de la surface par faisceau d’ions argon et recuit jusqu’à 1300 K,
  • Sollicitation mécanique en compression jusqu’à une contrainte σ = 500 MPa et une déformation totale ε = 15% pour des échantillons standards de 6 mm de longueur et 2×2 mm2 de section,
  • Visualisation en temps réel de la courbe contrainte/déformation, au cours de l’essai mécanique,
  • Vitesse de déformation allant de 10-6 à 10-4 s-1,
  • Résolution atomique y compris pour des échantillons sous contrainte,
  • Suivi en temps réel de l’évolution de la même zone de la surface à contrainte/déformation croissante, par microscopie à force atomique (AFM) ou par microscopie à effet tunnel (STM),
  • Essai mécanique sur une gamme de température allant de 90K à 650K.

 

20150205_160803 V2Figure 1: Dispositif expérimental Nanoplast

 

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